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低功率納米技術(shù)及其它靈敏器件的交流與直流測(cè)量方法對(duì)比

低功率納米技術(shù)及其它靈敏器件的交流與直流測(cè)量方法對(duì)比 Researchers today must measure material and device characteristics that involve very small currents and voltages. Examples include the measurement of resistance and I-V characteristics of nanowires, nanotubes, semiconductors, metals, superconductors, and

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