確保了設(shè)計(jì)師們能夠同時(shí)解決系統(tǒng)性的和隨機(jī)性的工藝過(guò)程偏差。通過(guò)減少對(duì)諸如片上差異(on-chip variation)等防護(hù)頻帶(guard-banding)技術(shù)的依賴,以及對(duì)更高良率單元的選擇指導(dǎo),因此SiliconSmart DFM 能夠幫助設(shè)計(jì)師們大幅度地提高良率。