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縮短HCI測試時(shí)間的白皮書（英文）

縮短HCI測試時(shí)間的白皮書（英文） Many reliability “wearout” tests monitor a performance parameter that degrades steadily with the log of the time on stress. In most cases, a time to 10% degradation is measured. The time to 10% degradation is considered a benchmark because many devices ar

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  • 更新時(shí)間：2010-01-18 10:05:56
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