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用于高靈敏度器件的交流與直流測(cè)量方法

用于高靈敏度器件的交流與直流測(cè)量方法 如今，研究人員必須測(cè)量極低電流和電壓下的材料和器件特性，例如測(cè)量納米線、納米管、半導(dǎo)體、金屬、超導(dǎo)體和絕緣材料的電阻和I-V特性。

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  • 更新時(shí)間：2010-01-13 15:31:32
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