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用于半導(dǎo)體可靠性的短脈沖強(qiáng)制性測(cè)試

用于半導(dǎo)體可靠性的短脈沖強(qiáng)制性測(cè)試 開(kāi)發(fā)IC讓它能工作是一回事；而讓它耐用就是另一回事了。隨著新技術(shù)出現(xiàn)新的可靠性問(wèn)題，后者變得越來(lái)越難。在封裝之前，在晶圓上進(jìn)行脈沖測(cè)試會(huì)有幫助。

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  • 更新時(shí)間：2009-12-29 15:16:17
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