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C-V/I-V 測試將變得更迅速、更簡單、更經(jīng)濟

C-V/I-V 測試將變得更迅速、更簡單、更經(jīng)濟 在半導體工業(yè)中，用戶對于提高測試效率和產(chǎn)能的需求達到了前所未有的水平?？焖僮兏募夹g對測試的復雜性和速度提出了更高需求，其目的是為了增加產(chǎn)品可靠性，縮短產(chǎn)品上市時間。吉時利最新的C-V測試系統(tǒng)滿足了這一需求。

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  • 發(fā)布公司：keithley
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  • 更新時間：2009-12-29 14:46:26
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